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想验证一个创新的电路，就快速设计了一个测试板PCB，发出打样回来，可是上电测试后，发现老是烧MOS管。

设计的原理图是这样的。

设计完成的PCB是这样的。

打样回来的PCBA实物是这样的。

现象是这样的，上电测试时，一个PMOS和一个NMOS都很容易烧坏。

原理图本来是要实现这样的功能。外接MCU的IO口，当IO输出高电平时，电路就输出24V，即电路中的PMOS管导通，24V回路导出，对外输出24V；当IO输出低电平，电路就输出0V，即电路中的NMOS管导通，GND回路导通，对外输出0V。电路如下图所示，前端还有光耦和模拟开关做切换。

但是现在电路并没有按照自己原来的想法执行，没有达到MCU的IO输出高电平时，电路输出24V，输出低电平时，电路输出0V的效果。反而是一上电路测试，两个MOS管都烧坏了。

大概率是，上电后，两个MOS管都导通了，24V对地短路，大电流把MOS管烧坏了。

任重而道远，一个创新的电路并没有我想的那么简单就能够实现，还需要继续努力，思考分析，找到原因，想出解决方法，继续测试验证，才能最终实现。